課程主題：【小貝開講】粒度表征常用方法、優(yōu)缺點及高分辨粒度表征的重要性

課程時間：2021-4-9 14:00

課程簡介：

隨著科技的發(fā)展，關于顆粒粒度的表征方法已從初簡單的篩分，發(fā)展到各種原理的檢測方法，包括靜態(tài)激光衍射法、動態(tài)激光散射法、離心沉降法、光阻法、電阻感應法、拍照圖像法等，這些方法各有優(yōu)缺點和適用性，對這些方法的了解有助于我們使用合適的工具對我們的產(chǎn)品或中間產(chǎn)物或原料進行有效的研究和質控。 高分辨的粒度表征技術是科學與產(chǎn)品不斷發(fā)展的必然要求。因為研發(fā)人員需要依靠粒度數(shù)據(jù)做出決策，QC需要及時發(fā)現(xiàn)批次間細微的差異。只有高分辨粒度表征技術，才能幫助客戶發(fā)現(xiàn)關鍵細節(jié)，實現(xiàn)精|準表征，獲得更加真實的粒度信息。然而，當前很多時候我們都是第|一時間使用激光粒度儀，而這其中有時會面臨著測試結果遺漏了關鍵細節(jié)的風險。 此次研討會將對以上內容一一向您做介紹。

姚金龍  貝克曼庫爾特生命科學

研究生畢業(yè)后先后在中科院上海有機所，上海高等研究院和某著名顆粒分析廠家工作，2019年正式加入貝克曼庫爾特公司。在激光粒度儀，納米粒度和Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀、納米可視追蹤分析儀和粉體顆粒流變儀等具有5-10年的操作應用經(jīng)驗，負責全|國粒度相關產(chǎn)品售前、售后應用技術支持。